A63.7069 Tungsten နန်းကြိုးအမျှင်လေးများကိုစကင်ဖတ်စစ်ဆေးသည့်အီလက်ထရွန်အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း၊ Std ။ SEM, 6x ~ 600000x

ဖော်ပြချက်အတို:

  • 6x ~ 60000x Tungsten နန်းကြိုးအမျှင်လေးများ Scanning Electron Microscope, Std ။ SEM
  • အဆင့်မြှင့်တင်နိုင်သော LaB6, X-Ray Detector, EBSD, CL, WDS, Coating Machine And etc
  • Multi Modification EBL၊ STM၊ AFTM၊ Heatign Stage၊ Cryo Stage, Tensile Stage, SEM + Laser And etc ။
  • အလိုအလျောက်စံကိုက်ညှိခြင်း၊ အလိုအလျောက်အမှားရှာဖွေခြင်း၊ ထိန်းသိမ်းခြင်းနှင့်ပြုပြင်ခြင်းအတွက်ကုန်ကျစရိတ်သက်သာခြင်း
  • Windows System တွင် Mouse မှထိန်းချုပ်ထားသောလွယ်ကူ။ အဆင်ပြေသော Operation Interface
  • အနည်းဆုံးအမှာစာအရေအတွက် -1

->


ကုန်ပစ္စည်းအသေးစိတ်

ကုန်ပစ္စည်းအမှတ်အသားများ

A63.7069_01.jpg

ကုန်ပစ္စည်းအကြောင်းအရာ
A63.7069 Tungsten ဝိုင်ယာကြိုး scan ဖတ်အီလက်ထရွန်အဏုကြည့်, Std ။ SEM
resolution 30KV (SE) @ 3nm; ၆ နာရီ @ 30KV (BSE)
ချဲ့ အနုတ်လက္ခဏာချဲ့: 6x ~ 300000x; မျက်နှာပြင်ချဲ့: 12x ~ 600000x
အီလက်ထရွန်သေနတ် Tungsten အပူ Cathode-Pre ဗဟိုပြု Tungsten နန်းကြိုးအမျှင်လေးတစ်ခု
Voltage ကိုအရှိန်မြှင့် 0 ~ 30KV
မှန်ဘီလူးစနစ် အဆင့်သုံးဆင့်လျှပ်စစ်သံလိုက်မှန်ဘီလူး (tapered lens)
ရည်ရွယ်ချက် aperture ဖုန်စုပ်စက်အပြင်ဘက်ရှိ Molybdenum Aperture
နမူနာဇာတ်စင် ငါးပုဆိန်အဆင့်
ခရီးသွားလုပ်ငန်း X (အလိုအလျောက်) 0 ~ 80mm
Y (အော်တို) 0 ~ 60mm
Z (လက်စွဲ) 0 ~ 50mm
R (လက်စွဲ) 360º
T (လက်စွဲ) -5º ~ 90º
မက်စ်နမူနာအချင်း ၁၇၅ မီလီမီတာ
Detector SE: Vacuum High Secondary Electron Detector (Detector Protection နှင့်အတူ)
BSE: Semiconductor လေးပိုင်းခွဲမှုနောက်ကျောပြစက်
CCD
ပြုပြင်မွမ်းမံ Stage Upgrade; EBL; STM; AFM; အပူအဆင့်; Cryo အဆင့်; ဆန့အဆင့်; Micro-nano ကိုင်တွယ်; SEM + Coating စက်; SEM + လေဆာ
ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ CCD, LaB6, X-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, Coating Machine
လေဟာနယ်စနစ် တာဘိုမော်လီကျူးပန့်များ၊
အီလက်ထရွန် Beam ကိုလက်ရှိ 10pA ~ 0.1μA
PC ကို Dell အလုပ်ဌာန

A63_05.jpg

A63_06.jpg

A63_07.jpg

A63_08.jpg

A63_09.jpg

A63_10.jpg

A63_10_02.jpg

အားသာချက်များနှင့်အမှုများ

စကင်ဖတ်စစ်ဆေးနိုင်သည့်အီလက်ထရွန်အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း (sem) သည်သတ္တု၊ ကြွေထည်မြေထည်ပစ္စည်း၊ သတ္တုဓာတ်၊ ဇီဝဗေဒ၊ ပိုလီမာ၊ ပေါင်းစပ်ခြင်းနှင့် nano စကေးတစ်ရှုထောင်၊ နှစ်မျက်နှာနှင့်သုံးဖက်မြင်ပစ္စည်းများ (ဒုတိယအီလက်ထရွန်ပုံရိပ်၊ backscattered electron image) ။ ၎င်းသည် microregion ၏အမှတ်၊ လိုင်းနှင့်မျက်နှာပြင်အစိတ်အပိုင်းများကိုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်အသုံးပြုနိုင်သည်။ ၎င်းကိုရေနံ၊ ဘူမိဗေဒ၊ ဓာတ်သတ္တု၊ အီလက်ထရွန်နစ်၊ Semiconductor နယ်ပယ်၊ ဆေးပညာ၊ ဇီဝဗေဒ၊ ဓာတုစက်မှုလုပ်ငန်း၊ အများပြည်သူလုံခြုံရေး၊ စိုက်ပျိုးရေး၊ သစ်တောနှင့်အခြားနယ်ပယ်များတွင်ရာဇ ၀ တ်မှုစုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း။A63_13.jpg

A63_14.jpg

A63_15.jpg

ကုမ္ပဏီသတင်းအချက်အလက်

_02_01.jpg

OPTO-EDU သည်တရုတ်နိုင်ငံတွင်မိုက်ခရိုစကုပ်အများဆုံးထုတ်လုပ်သူနှင့်ကုန်ပစ္စည်းပေးသွင်းသူဖြစ်သည့်ကျွန်ုပ်တို့၏ကုန်အမှတ်တံဆိပ် CNOPTEC စီးရီးအဆင့်မြင့်ဇီဝဗေဒ၊ ဓာတ်ခွဲခန်း၊ polarizing၊ သတ္တုဗေဒ၊ fluorescene ဏု၊ CNCOMPARISON series forensic microscope, A63 series SEM ဏုနှင့် .49 စီးရီးဒီဂျစ်တယ်ကင်မရာ၊ LCD ကင်မရာသည်ကမ္ဘာ့ဈေးကွက်တွင်အလွန်လူကြိုက်များသည်။

_02_03.jpg

_02_04.jpg


  • ရှေ့သို့
  • နောက်တစ်ခု:

  • မင်းရဲ့မက်ဆေ့ခ်ျကိုဒီမှာရေးပြီးငါတို့ဆီပို့ပါ